文献
J-GLOBAL ID:201202240157222374
整理番号:12A0460807
揺動電子顕微鏡法におけるプローブ寸法と構造相関長の関係を調べるための多結晶薄膜モデルの試験
Examination of a Polycrystalline Thin-Film Model to Explore the Relation between Probe Size and Structural Correlation Length in Fluctuation Electron Microscopy
著者 (2件):
TREACY M.M.J.
(Arizona State Univ., AZ, USA)
,
GIBSON J.M.
(Northeastern Univ., MA, USA)
資料名:
Microscopy and Microanalysis
(Microscopy and Microanalysis)
巻:
18
号:
1
ページ:
241-253
発行年:
2012年02月
JST資料番号:
W1587A
ISSN:
1431-9276
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)