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文献
J-GLOBAL ID:201202242328187311   整理番号:12A0589503

X線その場観察MOVPEにより評価したGaInN/GaNの臨界膜厚の組成依存性

著者 (10件):
近藤保成
(名城大 理工)
飯田大輔
(名城大 理工)
杉山徹
(名城大 理工)
曽和美保子
(名城大 理工)
松原大幸
(名城大 理工)
岩谷素顕
(名城大 理工)
竹内哲也
(名城大 理工)
上山智
(名城大 理工)
赤崎勇
(名城大 理工)
赤崎勇
(名大 赤崎記念研究セ)

資料名:
応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)

巻: 59th  ページ: ROMBUNNO.18A-B1-3  発行年: 2012年02月29日 
JST資料番号: Y0054B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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