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文献
J-GLOBAL ID：201202243612580887
整理番号：12A0858266
有機半導体薄膜の表面とバルク領域の間のコア準位エネルギー差の精密解析
A Precise Analysis of the Core-Level Energy Difference between the Surface and Bulk Region of Organic Semiconductor Thin Films
YOSHIDA Hiroyuki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YOSHIDA Hiroyuki
(JST-PRESTO, Saitama, JPN)
,
SATO Naoki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名：
Journal of Physical Chemistry C
(Journal of Physical Chemistry C)
巻： 116 号： 18 ページ： 10033-10038 発行年： 2012年05月10日
JST資料番号： W1877A ISSN： 1932-7447 CODEN： JPCCCK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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