文献
J-GLOBAL ID:201202243749276085
整理番号:12A1636262
テルルのナノ粒子を埋め込んだテルル化ビスマスアンチモンの熱電特性の向上の実験的な証拠
Experimental evidence of enhancement of thermoelectric properties in tellurium nanoparticle-embedded bismuth antimony telluride
著者 (7件):
KIM Sang Il
(Samsung Electronics, Gyung-gi, KOR)
,
HWANG Sungwoo
(Samsung Electronics, Gyung-gi, KOR)
,
ROH Jong Wook
(Samsung Electronics, Gyung-gi, KOR)
,
AHN Kyunghan
(Samsung Electronics, Gyung-gi, KOR)
,
YEON Dong-Hee
(Samsung Electronics, Gyung-gi, KOR)
,
LEE Kyu Hyoung
(Samsung Electronics, Gyung-gi, KOR)
,
KIM Sung Wng
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
資料名:
Journal of Materials Research
(Journal of Materials Research)
巻:
27
号:
19
ページ:
2449-2456
発行年:
2012年10月14日
JST資料番号:
D0987B
ISSN:
0884-2914
CODEN:
JMREEE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)