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文献
J-GLOBAL ID:201202244267946853   整理番号:12A0363832

シリコン表面のCF3+エッチング:分子動力学的研究

CF3 + etching silicon surface: A molecular dynamics study
著者 (11件):
ZHAO C.
(Inst. of Plasma Surface Interactions, Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
ZHAO C.
(Coll. of Sci., Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
LU X.
(Inst. of Plasma Surface Interactions, Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
HE P.
(Inst. of Plasma Surface Interactions, Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
ZHANG P.
(Inst. of Plasma Surface Interactions, Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
SUN W.
(Key Lab of Radiation Physics & Technol. Ministry of Education, Chengdu 610064, CHN)
ZHANG J.
(Key Lab of Radiation Physics & Technol. Ministry of Education, Chengdu 610064, CHN)
CHEN F.
(Inst. of Plasma Surface Interactions, Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
CHEN F.
(Coll. of Sci., Guizhou Univ., Guiyang 550025, CHN)
GOU F.
(FOM Inst. for Plasma Physics, 3439 MN Nieuwegein, NLD)
GOU F.
(Key Lab of Radiation Physics & Technol. Ministry of Education, Chengdu 610064, CHN)

資料名:
Vacuum  (Vacuum)

巻: 86  号:ページ: 913-916  発行年: 2012年02月08日 
JST資料番号: E0347A  ISSN: 0042-207X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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