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文献
J-GLOBAL ID：201202246486759131
整理番号：12A1466417
40nm SRAMsのリアルタイム・ソフトエラー試験
Real-Time Soft-Error Testing of 40nm SRAMs
AUTRAN J.L.
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
SERRE S.
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
MUNTEANU D.
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
MARTINIE S.
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
SEMIKH S.
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
SAUZE S.
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
UZNANSKI S.
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
GASIOT G.
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
ROCHE P.
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2012 Vol.1 ページ： 257-265 発行年： 2012年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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