文献
J-GLOBAL ID:201202248338019334
整理番号:12A1211086
AlInN/GaN系ヘテロ構造の表面・界面評価
Interface characterization of AlInN/GaN heterostructures
著者 (3件):
橋詰保
(JST-CREST)
,
堀祐臣
(北大 情報科学研究科 量子集積エレクトロニクス研究セ)
,
赤澤正道
(北大 情報科学研究科 量子集積エレクトロニクス研究セ)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
112
号:
154(ED2012 41-53)
ページ:
17-20
発行年:
2012年07月19日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)