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文献
J-GLOBAL ID：201202249094535315
整理番号：12A0749356
大型TFT-LCDアプリケーション用の高信頼性集積ゲートドライバ回路
Highly Reliable Integrated Gate Driver Circuit for Large TFT-LCD Applications
LIN Chih-Lung
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHENG Mao-Hsun
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
TU Chun-Da
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHUANG Min-Chin
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 33 号： 5 ページ： 679-681 発行年： 2012年05月
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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