文献
J-GLOBAL ID:201202250059843480
整理番号:12A1602037
イメージングX線Thomson散乱分光計設計及び実証(招待)
Imaging x-ray Thomson scattering spectrometer design and demonstration (invited)
著者 (8件):
GAMBOA E. J.
(Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48105, USA)
,
HUNTINGTON C. M.
(Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48105, USA)
,
TRANTHAM M. R.
(Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48105, USA)
,
KEITER P. A.
(Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48105, USA)
,
DRAKE R. P.
(Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48105, USA)
,
MONTGOMERY D. S.
(Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
,
BENAGE J. F.
(Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
,
LETZRING S. A.
(Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
83
号:
10
ページ:
10E108-10E108-5
発行年:
2012年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)