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文献
J-GLOBAL ID：201202250522424149
整理番号：12A1727160
シリコンナノ細線の隠れた欠陥
Hidden defects in silicon nanowires
DEN HERTOG M I
(UJF-Grenoble1, Grenoble, FRA)
,
CAYRON C
(LITEN, CEA, Grenoble, FRA)
,
GENTILE P
(UJF-Grenoble1, Grenoble, FRA)
,
DHALLUIN F
(UJF-Grenoble1, Grenoble, FRA)
,
DHALLUIN F
(LTM, CNRS, Grenoble, FRA)
,
OEHLER F
(UJF-Grenoble1, Grenoble, FRA)
,
BARON T
(LTM, CNRS, Grenoble, FRA)
,
ROUVIERE J L
(UJF-Grenoble1, Grenoble, FRA)
資料名：
Nanotechnology
(Nanotechnology)
巻： 23 号： 2 ページ： 025701,1-10 発行年： 2012年01月20日
JST資料番号： W0108A ISSN： 0957-4484 CODEN： NNOTER 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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