文献
J-GLOBAL ID:201202250562002921
整理番号:12A1466402
バイアス温度不安定性によるSRAMアレイの利用ごとの劣化
Usage-based Degradation of SRAM Arrays due to Bias Temperature Instability
著者 (3件):
BANSAL Aditya
(IBM Thomas J.Watson Res. Center, NY)
,
KIM Jae-Joon
(IBM Thomas J.Watson Res. Center, NY)
,
RAO Rahul
(IBM Thomas J.Watson Res. Center, NY)
資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
2012 Vol.1
ページ:
168-171
発行年:
2012年
JST資料番号:
A0631A
ISSN:
1541-7026
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)