文献
J-GLOBAL ID:201202250997179831
整理番号:12A0868858
薄膜中の貫通転位の断面把握
Capture cross-section of threading dislocations in thin films
著者 (2件):
FERTIG Ray S.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Cornell Univ., Ithaca, NY 14853, USA)
,
BAKER Shefford P.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Cornell Univ., Ithaca, NY 14853, USA)
資料名:
Materials Science & Engineering. A. Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing
(Materials Science & Engineering. A. Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing)
巻:
551
ページ:
67-72
発行年:
2012年08月15日
JST資料番号:
D0589B
ISSN:
0921-5093
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)