文献
J-GLOBAL ID:201202251539084879
整理番号:12A1164799
シンクロトロン放射に基づいたFourier変換赤外マイクロイメージングによる残留指紋中に存在する汚染物質としての微粒子の検出
Detection of microscopic particles present as contaminants in latent fingerprints by means of synchrotron radiation-based Fourier transform infra-red micro-imaging
著者 (6件):
BANAS A.
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
BANAS K.
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
BREESE M. B. H.
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
LOKE J.
(Criminal Investigation Dep., Cantonment Complex, Singapore)
,
TEO B. Heng
(Imperial Coll., London, GBR)
,
LIM S. K.
(Criminal Investigation Dep., Cantonment Complex, Singapore)
資料名:
Analyst
(Analyst)
巻:
137
号:
15
ページ:
3459-3465
発行年:
2012年08月07日
JST資料番号:
A0392A
ISSN:
0003-2654
CODEN:
ANALAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)