文献
J-GLOBAL ID:201202251711476407
整理番号:12A0165337
静電気力顕微鏡によって測定したCdSe/CdTeから成るヘテロナノワイヤにおける電荷分離
Charge separation in CdSe/CdTe hetero-nanowires measured by electrostatic force microscopy
著者 (5件):
SCHAEFER Sebastian
(Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU)
,
REICH Aina
(Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU)
,
WANG Zhe
(Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU)
,
KIPP Tobias
(Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU)
,
MEWS Alf
(Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
100
号:
2
ページ:
022110
発行年:
2012年01月09日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)