文献
J-GLOBAL ID:201202251999648800
整理番号:12A1114976
トレースに基づくポストシリコン検証における可視性向上のための信号選択について
On Signal Selection for Visibility Enhancement in Trace-Based Post-Silicon Validation
著者 (3件):
LIU Xiao
(Chinese Univ. Hong Kong, HKG)
,
XU Qiang
(Chinese Univ. Hong Kong, HKG)
,
XU Qiang
(Shenzen Inst. Advanced Technol., Chinese Acad. Sci., Shenzhen, CHN)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
31
号:
8
ページ:
1263-1274
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)