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文献
J-GLOBAL ID:201202252375388053   整理番号:12A1053349

素子性能及び信頼性増倍のための超薄ポリ(4-ビニルフェノール)層によるグラフェン上への高k誘電体のシーディング原子層堆積

Seeding atomic layer deposition of high-k dielectric on graphene with ultrathin poly(4-vinylphenol) layer for enhanced device performance and reliability
著者 (4件):
CHEOL SHIN Woo
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
YONG KIM Taek
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
SUL Onejae
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
JIN CHO Byung
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 101  号:ページ: 033507-033507-4  発行年: 2012年07月16日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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