文献
J-GLOBAL ID:201202252375388053
整理番号:12A1053349
素子性能及び信頼性増倍のための超薄ポリ(4-ビニルフェノール)層によるグラフェン上への高k誘電体のシーディング原子層堆積
Seeding atomic layer deposition of high-k dielectric on graphene with ultrathin poly(4-vinylphenol) layer for enhanced device performance and reliability
著者 (4件):
CHEOL SHIN Woo
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
,
YONG KIM Taek
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
,
SUL Onejae
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
,
JIN CHO Byung
(Dep. of Electrical Engineering, Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol., 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
101
号:
3
ページ:
033507-033507-4
発行年:
2012年07月16日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)