文献
J-GLOBAL ID:201202252499025927
整理番号:12A1035618
二ホウ化物薄膜上のエピタキシャルシリセンについての実験的証拠
Experimental Evidence for Epitaxial Silicene on Diboride Thin Films
著者 (6件):
FLEURENCE Antoine
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol. (JAIST), Ishikawa, JPN)
,
FRIEDLEIN Rainer
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol. (JAIST), Ishikawa, JPN)
,
OZAKI Taisuke
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol. (JAIST), Ishikawa, JPN)
,
KAWAI Hiroyuki
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol. (JAIST), Ishikawa, JPN)
,
WANG Ying
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol. (JAIST), Ishikawa, JPN)
,
YAMADA-TAKAMURA Yukiko
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol. (JAIST), Ishikawa, JPN)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
108
号:
24
ページ:
245501.1-245501.5
発行年:
2012年06月15日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)