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文献
J-GLOBAL ID：201202252858689666
整理番号：12A0810174
四ステップ構造化光パターンを利用した3Dプロファイル測定のための絶対位相技術
An absolute phase technique for 3D profile measurement using four-step structured light pattern
XU Jing
(State Key Lab. of Tribology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
,
XU Jing
(Dep. of Precision Instruments and Mechanology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
,
LIU Shaoli
(Dep. of Precision Instruments and Mechanology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
,
WAN An
(Dep. of Precision Instruments and Mechanology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
,
GAO Bingtuan
(School of Electrical and Engineering, Southeast Univ., Nanjing 210096, CHN)
,
YI Qiang
(Dep. of Precision Instruments and Mechanology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
,
ZHAO Danpu
(Inst. of Automation, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100190, CHN)
,
LUO Ruikun
(Dep. of Precision Instruments and Mechanology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
,
CHEN Ken
(Dep. of Precision Instruments and Mechanology, Tsinghua Univ., Beijing 100084, CHN)
資料名：
Optics and Lasers in Engineering
(Optics and Lasers in Engineering)
巻： 50 号： 9 ページ： 1274-1280 発行年： 2012年09月
JST資料番号： A0602B ISSN： 0143-8166 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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