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文献
J-GLOBAL ID:201202253374140615   整理番号:12A0706151

Sbドープn+-BaSi2/p+-Siトンネル接合からアンドープBaSi2被覆層へのSb拡散抑制についての固相エピタキシーSi層の効果

Effect of Solid-Phase-Epitaxy Si Layers on Suppression of Sb Diffusion from Sb-Doped n+-BaSi2/p+-Si Tunnel Junction to Undoped BaSi2 Overlayers
著者 (8件):
DU Weijie
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
SAITO Takanobu
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
KHAN Muhammad Ajmal
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
TOKO Kaoru
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
USAMI Noritaka
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
USAMI Noritaka
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
SUEMASU Takashi
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
SUEMASU Takashi
(JST-CREST, Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 51  号: 4,Issue 2  ページ: 04DP01.1-04DP01.4  発行年: 2012年04月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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