文献
J-GLOBAL ID:201202253374140615
整理番号:12A0706151
Sbドープn+-BaSi2/p+-Siトンネル接合からアンドープBaSi2被覆層へのSb拡散抑制についての固相エピタキシーSi層の効果
Effect of Solid-Phase-Epitaxy Si Layers on Suppression of Sb Diffusion from Sb-Doped n+-BaSi2/p+-Si Tunnel Junction to Undoped BaSi2 Overlayers
著者 (8件):
DU Weijie
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SAITO Takanobu
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
KHAN Muhammad Ajmal
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
TOKO Kaoru
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
USAMI Noritaka
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
USAMI Noritaka
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
,
SUEMASU Takashi
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SUEMASU Takashi
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
51
号:
4,Issue 2
ページ:
04DP01.1-04DP01.4
発行年:
2012年04月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)