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文献
J-GLOBAL ID：201202256586249829
整理番号：12A0599590
低軟X線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定
Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector
与儀千尋
(立命館大 SRセ)
,
石井秀司
(立命館大 SRセ)
,
中西康次
(立命館大 SRセ)
,
渡辺巌
(立命館大 SRセ)
,
小島一男
(立命館大 生命科学)
,
太田俊明
(立命館大 SRセ)
資料名：
X線分析の進歩
(X線工業分析)
巻： 43 ページ： 147-152 発行年： 2012年03月31日
JST資料番号： Z0547B ISSN： 0911-7806 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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