文献
J-GLOBAL ID:201202257952740740
整理番号:12A1212290
マイクロフルイディクス用のEWOD技術とSAW技術の統合を評価するテスト構造
Test Structures for Characterizing the Integration of EWOD and SAW Technologies for Microfluidics
著者 (16件):
LI Yifan
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
FU Richard Yongqing
(Univ. West of Scotland, Paisley, GBR)
,
WINTERS D.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
FLYNN Brian W.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
PARKES Bill
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
BRODIE Douglas Stuart
(Heriot-Watt Univ., Edinburgh, GBR)
,
LIU Yufei
(Swansea Univ., Swansea, GBR)
,
TERRY Jonathan
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
HAWORTH Les I.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
BUNTING A.S.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
STEVENSON J.T.M.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
SMITH Stewart
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
MACKAY C.Logan
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
LANGRIDGE-SMITH Pat R.R.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
STOKES Adam A.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
,
WALTON Anthony J.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
資料名:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
(IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)
巻:
25
号:
3
ページ:
323-330
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
T0521A
ISSN:
0894-6507
CODEN:
ITSMED
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)