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文献
J-GLOBAL ID:201202257952740740   整理番号:12A1212290

マイクロフルイディクス用のEWOD技術とSAW技術の統合を評価するテスト構造

Test Structures for Characterizing the Integration of EWOD and SAW Technologies for Microfluidics
著者 (16件):
LI Yifan
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
FU Richard Yongqing
(Univ. West of Scotland, Paisley, GBR)
WINTERS D.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
FLYNN Brian W.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
PARKES Bill
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
BRODIE Douglas Stuart
(Heriot-Watt Univ., Edinburgh, GBR)
LIU Yufei
(Swansea Univ., Swansea, GBR)
TERRY Jonathan
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
HAWORTH Les I.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
BUNTING A.S.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
STEVENSON J.T.M.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
SMITH Stewart
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
MACKAY C.Logan
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
LANGRIDGE-SMITH Pat R.R.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
STOKES Adam A.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)
WALTON Anthony J.
(Univ. Edinburgh, Edinburgh, GBR)

資料名:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing  (IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)

巻: 25  号:ページ: 323-330  発行年: 2012年08月 
JST資料番号: T0521A  ISSN: 0894-6507  CODEN: ITSMED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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