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文献
J-GLOBAL ID：201202258116876560
整理番号：12A0735648
ケイ素における電場誘起の負の微分スピン寿命
Field-Induced Negative Differential Spin Lifetime in Silicon
LI Jing
(Univ. Maryland, Maryland, USA)
,
QING Lan
(Univ. Rochester, New York, USA)
,
DERY Hanan
(Univ. Rochester, New York, USA)
,
APPELBAUM Ian
(Univ. Maryland, Maryland, USA)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 108 号： 15 ページ： 157201.1-157201.5 発行年： 2012年04月13日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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