文献
J-GLOBAL ID:201202258217457216
整理番号:12A1304450
被試験装置とTEMセル間の相互影響
Mutual Influence Between the Equipment Under Test and TEM Cells
著者 (1件):
POUHE David
(Technical Univ. Berlin, Berlin, DEU)
資料名:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
(IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻:
54
号:
4
ページ:
726-737
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
H0383A
ISSN:
0018-9375
CODEN:
IEMCAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)