文献
J-GLOBAL ID:201202258712885240
整理番号:12A1592868
プローブの厳密な調査:位相-距離曲線からのHamaker定数を決定するナノテンプレートを経たAFMチッププロファイリング
Probing the probe: AFM tip-profiling via nanotemplates to determine Hamaker constants from phase-distance curves
著者 (5件):
RODRIGUEZ Raul D.
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
,
LACAZE Emmanuelle
(CNRS, Inst. Nano-Sci. de Paris (INSP), Paris, FRA)
,
JUPILLE Jacques
(CNRS, Inst. Nano-Sci. de Paris (INSP), Paris, FRA)
,
LACAZE Emmanuelle
(UPMC Univ Paris 06, Paris, FRA)
,
JUPILLE Jacques
(UPMC Univ Paris 06, Paris, FRA)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
121
ページ:
25-30
発行年:
2012年10月
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)