文献
J-GLOBAL ID:201202259033271256
整理番号:12A1021733
SRAMに基づくFPGA誤り訂正符号実装のソフトエラー感受性の比較
Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Implementations
著者 (7件):
LIU S.
(Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, ESP)
,
SORRENTI G.
(Sanitas EG s.r.l., Milano, ITA)
,
REVIRIEGO P.
(Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, ESP)
,
CASINI F.
(Sanitas EG s.r.l., Milano, ITA)
,
MAESTRO J. A.
(Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, ESP)
,
ALDERIGHI M.
(Istituto Nazionale d’Astrofisica, Milano, ITA)
,
MECHA H.
(Universidad Complutense de Madrid, Madrid, ESP)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
59
号:
3,Pt.2
ページ:
619-624
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)