文献
J-GLOBAL ID:201202259168026642
整理番号:12A1217287
X線光電子分光法:NdとYbイオンをドープしたガラスの表面と深さプロファイリング研究
X-ray photoelectron spectroscopy: surface and depth profiling studies of glasses doped with Nd and Yb ions
著者 (2件):
RIVERA-LOPEZ F.
(Universidad de La Laguna, Tenerife, ESP)
,
PEREZ Mariano
(Universidad de La Laguna, Tenerife, ESP)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
44
号:
8
ページ:
927-930
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)