文献
J-GLOBAL ID:201202259317547782
整理番号:12A0735936
集束イオンビーム-走査電子顕微鏡法による乾燥塗膜中の顔料分散の三次元的キャラクタリゼーション
Three-Dimensional Characterization of Pigment Dispersion in Dried Paint Films Using Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy
著者 (4件):
LIN Jui-Ching
(Dow Chemical Co., MI, USA)
,
HEESCHEN William
(Dow Chemical Co., MI, USA)
,
REFFNER John
(Dow Chemical Co., PA, USA)
,
HOOK John
(Dow Chemical Co., PA, USA)
資料名:
Microscopy and Microanalysis
(Microscopy and Microanalysis)
巻:
18
号:
2
ページ:
266-271
発行年:
2012年04月
JST資料番号:
W1587A
ISSN:
1431-9276
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)