文献
J-GLOBAL ID:201202259506333661
整理番号:12A0564457
カーボンナノチューブp-i-nフォトダイオードからの電子および正孔の逃散時間の超高速光電流測定
Ultrafast Photocurrent Measurement of the Escape Time of Electrons and Holes from Carbon Nanotube p-i-n Photodiodes
著者 (4件):
GABOR Nathaniel M.
(Cornell Univ., New York, USA)
,
ZHONG Zhaohui
(Univ. Michigan, Michigan, USA)
,
BOSNICK Ken
(National Res. Council of Canada, AB, CAN)
,
MCEUEN Paul L.
(Cornell Univ., New York, USA)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
108
号:
8
ページ:
087404.1-087404.5
発行年:
2012年02月24日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)