文献
J-GLOBAL ID:201202260272053072
整理番号:12A1510424
サブkeV電子顕微鏡のための高効率シリコンフォトダイオード検出器
High-Efficiency Silicon Photodiode Detector for Sub-keV Electron Microscopy
著者 (10件):
SAKIC Agata
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
VAN VEEN Gerard
(FEI Co., Eindhoven, NLD)
,
KOOIJMAN Kees
(FEI Co., Eindhoven, NLD)
,
VOGELSANG Patrick
(FEI Co., Eindhoven, NLD)
,
SCHOLTES Tom L.M.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
DE BOER Wiebe B.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
DERAKHSHANDEH Jaber
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
WIEN Wim H.A.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
MILOSAVLJEVIC Silvana
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
NANVER Lis K.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
59
号:
10
ページ:
2707-2714
発行年:
2012年10月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)