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文献
J-GLOBAL ID:201202260285316641   整理番号:12A0363630

シリコン上の高度格子-不整合エピタキシーにおける埋め込みヘテロ界面水素の解析

Analysis of buried heterointerfacial hydrogen in highly lattice-mismatched epitaxy on silicon
著者 (8件):
YAMAZAKI T.
ASAOKA H.
TAGUCHI T.
YAMAMOTO S.
YAMAZAKI D.
MARUYAMA R.
TAKEDA M.
SHAMOTO S.

資料名:
Thin Solid Films  (Thin Solid Films)

巻: 520  号:ページ: 3300-3303  発行年: 2012年02月01日 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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