文献
J-GLOBAL ID:201202260891073665
整理番号:12A0616121
軟X線分光によるBiFe1-xMxO3(M=Mn,Co)薄膜の電子構造
Electronic Structure of BiFe1-xMxO3 (M=Mn and Co) Thin Films by Soft-X-Ray Spectroscopy
著者 (8件):
HIGUCHI Tohru
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
NAGANUMA Hiroshi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
MIURA Jun
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
INOUE Yosuke
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
LIU Yi-Sheng
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
,
GLANS Per-Anders
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
,
GUO Jinghua
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
,
OKAMURA Soichiro
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
資料名:
Transactions of the Materials Research Society of Japan
(Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻:
37
号:
1
ページ:
77-80
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
L4468A
ISSN:
1382-3469
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)