文献
J-GLOBAL ID:201202261354454098
整理番号:12A1100103
原子間力顕微鏡法ベースのナノスケール放電加工の研究
The Study on the Atomic Force Microscopy Base Nanoscale Electrical Discharge Machining
著者 (2件):
HUANG Jen-Ching
(Tungnan Univ., New Taipei City, TWN)
,
CHEN Chung-Ming
(Tungnan Univ., New Taipei City, TWN)
資料名:
Scanning
(Scanning)
巻:
34
号:
3
ページ:
191-199
発行年:
2012年05月
JST資料番号:
D0300B
ISSN:
0161-0457
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)