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文献
J-GLOBAL ID：201202262144412658
整理番号：12A1391223
光熱ビーム偏向技法を用いるSnS薄膜の熱特性および電子キャリア輸送特性の測定
Determination of thermal and electronic carrier transport properties of SnS thinfilms using photothermal beam deflection technique
WARRIER Anita R.
(Cochin Univ. of Sci. and Technol., Cochin 682 022, IND)
,
SAJEESH T.h.
(Cochin Univ. of Sci. and Technol., Cochin 682 022, IND)
,
KARTHA C. Sudha
(Cochin Univ. of Sci. and Technol., Cochin 682 022, IND)
,
VIJAYAKUMAR K.p.
(Cochin Univ. of Sci. and Technol., Cochin 682 022, IND)
資料名：
Materials Research Bulletin
(Materials Research Bulletin)
巻： 47 号： 11 ページ： 3758-3763 発行年： 2012年11月
JST資料番号： B0954A ISSN： 0025-5408 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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