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文献
J-GLOBAL ID：201202262265154168
整理番号：12A1336946
001-,110-,および111-配向NaNbO3膜における分域構造のレーザビーム走査顕微鏡と圧電応答力顕微鏡観察
Laser beam scanning microscope and piezoresponse force microscope studies on domain structured in 001-, 110-, and 111-oriented NaNbO3 films
YAMAZOE Seiji
(Dep. of Materials Chemistry, Ryukoku Univ., Seta, Otsu 520-2194, JPN)
,
KOHORI Akihiro
(Dep. of Materials Chemistry, Ryukoku Univ., Seta, Otsu 520-2194, JPN)
,
SAKURAI Hiroyuki
(Dep. of Materials Chemistry, Ryukoku Univ., Seta, Otsu 520-2194, JPN)
,
KITANAKA Yuuki
(RCAST, The Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
,
NOGUCHI Yuji
(RCAST, The Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
,
MIYAYAMA Masaru
(RCAST, The Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
,
WADA Takahiro
(Dep. of Materials Chemistry, Ryukoku Univ., Seta, Otsu 520-2194, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 112 号： 5 ページ： 052007-052007-6 発行年： 2012年09月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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