文献
J-GLOBAL ID:201202263079233747
整理番号:12A0025863
酸化物中の確率的電荷トラップ:不規則電信雑音からバイアス温度不安定性まで
Stochastic charge trapping in oxides: From random telegraph noise to bias temperature instabilities
著者 (1件):
GRASSER Tibor
(Inst. for Microelectronics, TU Wien, Gusshausstrasse 27-29, 1040 Wien, AUT)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
52
号:
1
ページ:
39-70
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)