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文献
J-GLOBAL ID：201202264203334553
整理番号：12A1421971
超伝導膜の臨界電流密度の第3高調波電圧を用いた誘導測定における不確定性の評価
Evaluation of uncertainty in the inductive measurement of critical current densities of superconducting films using third-harmonic voltages
YAMASAKI H.
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN)
,
MAWATARI Y.
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN)
,
NAKAGAWA Y.
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN)
,
YAMADA H.
(Oshima National Coll. of Maritime Technol., 1091-1 Komatsu SuouOshima-city, Oshima County, Yamaguchi 742-2193, JPN)
資料名：
Cryogenics
(Cryogenics)
巻： 52 号： 10 ページ： 544-549 発行年： 2012年10月
JST資料番号： D0115B ISSN： 0011-2275 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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