文献
J-GLOBAL ID:201202264888198851
整理番号:12A0433514
電子後方散乱のための金属試料調製
Metallographic Preparation for Electron Backscattered Diffraction
著者 (1件):
VOOS Patrick
(Buehler GmbH, Duesseldorf, DEU)
資料名:
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻:
702/703
号:
Pt.2
ページ:
578-581
発行年:
2012年
JST資料番号:
D0716B
ISSN:
0255-5476
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)