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文献
J-GLOBAL ID：201202265091109604
整理番号：12A1683447
共焦点マイクロ蛍光X線分光法を用いるX線散乱による超低密度材料の三次元密度測定
Three-dimensional density measurements of ultra low density materials by X-ray scatter using confocal micro X-ray fluorescence spectroscopy
PATTERSON Brian M.
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
DEFRIEND OBREY Kimberly A.
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
HAMILTON Christopher E.
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
HAVRILLA George J.
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
資料名：
X-Ray Spectrometry
(X-Ray Spectrometry)
巻： 41 号： 4 ページ： 253-258 発行年： 2012年07月
JST資料番号： D0456B ISSN： 0049-8246 CODEN： XRSPAX 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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