文献
J-GLOBAL ID:201202265732845616
整理番号:12A0802601
GaMnAs/Cu二層の近接界面での強磁性を検出する接触抵抗
Contact resistance as a probe of near-interface ferromagnetism in GaMnAs/Cu bilayers
著者 (6件):
EID K. F.
(Dep. of Physics, Miami Univ., Oxford, Ohio 45056, USA)
,
PAUDEL B.
(Dep. of Physics, Miami Univ., Oxford, Ohio 45056, USA)
,
RILEY G.
(Dep. of Physics, Miami Univ., Oxford, Ohio 45056, USA)
,
DAHLIAH D.
(Dep. of Physics, Miami Univ., Oxford, Ohio 45056, USA)
,
LIU X.
(Dep. of Physics, Univ. of Notre Dame, Notre Dame, Indiana 46556, USA)
,
FURDYNA J. K.
(Dep. of Physics, Univ. of Notre Dame, Notre Dame, Indiana 46556, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
100
号:
21
ページ:
212403-212403-4
発行年:
2012年05月21日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)