文献
J-GLOBAL ID:201202265796784599
整理番号:12A0593528
集束Ga+イオンビーム衝撃によって誘起された自己アセンブリタングステンナノニードルに及ぼす表面粗さの効果
The effect of surface roughness on self-assembly tungsten nanoneedles induced by focused Ga+ ion beam bombardment
著者 (8件):
RAN Guang
(School of Energy Res., Xiamen Univ., Xiamen, Fujian 361005, CHN)
,
RAN Guang
(Dep. of Nuclear Engineering and Radiological Sciences, Univ. of Michigan, Ann Arbor, MI 48109, USA)
,
LIU Xiang
(Southwestern Inst. of Physics, Chengdu, Sichuan 610041, CHN)
,
WU Jihong
(Southwestern Inst. of Physics, Chengdu, Sichuan 610041, CHN)
,
ZU Xiaotao
(Dep. of Applied Physics, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu, Sichuan 610054, CHN)
,
WANG Lumin
(School of Energy Res., Xiamen Univ., Xiamen, Fujian 361005, CHN)
,
WANG Lumin
(Dep. of Nuclear Engineering and Radiological Sciences, Univ. of Michigan, Ann Arbor, MI 48109, USA)
,
WANG Lumin
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Michigan, Ann Arbor, MI 48109, USA)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
258
号:
15
ページ:
5553-5557
発行年:
2012年05月15日
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)