文献
J-GLOBAL ID:201202266074720304
整理番号:12A1636877
レーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析を用いるサブナノメータ層の厚さの決定
Thickness Determination of Subnanometer Layers Using Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
著者 (4件):
HATTENDORF Bodo
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
PISONERO Jorge
(Univ. Oviedo, Mieres, ESP)
,
GUENTHER Detlef
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
BORDEL Nerea
(Univ. Oviedo, Mieres, ESP)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
84
号:
20
ページ:
8771-8776
発行年:
2012年10月16日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)