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文献
J-GLOBAL ID:201202266074720304   整理番号:12A1636877

レーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析を用いるサブナノメータ層の厚さの決定

Thickness Determination of Subnanometer Layers Using Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
著者 (4件):
HATTENDORF Bodo
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
PISONERO Jorge
(Univ. Oviedo, Mieres, ESP)
GUENTHER Detlef
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
BORDEL Nerea
(Univ. Oviedo, Mieres, ESP)

資料名:
Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)

巻: 84  号: 20  ページ: 8771-8776  発行年: 2012年10月16日 
JST資料番号: A0395A  ISSN: 0003-2700  CODEN: ANCHAM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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