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文献
J-GLOBAL ID：201202267047226337
整理番号：12A0555276
低エネルギーイオンビーム衝撃による界面交換結合の調整:界面粗さによる同調
Tailoring interfacial exchange coupling with low-energy ion beam bombardment: Tuning the interface roughness
LIN K.-w.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chung Hsing Univ., Tiachung 402, Taiwan)
,
MIRZA M.
(Dep. of Physics and Astronomy, Univ. of Manitoba, Winnipeg, Manitoba R3T 2N2, CAN)
,
SHUEH C.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chung Hsing Univ., Tiachung 402, Taiwan)
,
HUANG H.-r.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chung Hsing Univ., Tiachung 402, Taiwan)
,
HSU H.-f.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chung Hsing Univ., Tiachung 402, Taiwan)
,
LIEROP J. van
(Dep. of Physics and Astronomy, Univ. of Manitoba, Winnipeg, Manitoba R3T 2N2, CAN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 100 号： 12 ページ： 122409-122409-4 発行年： 2012年03月19日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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