文献
J-GLOBAL ID:201202267304465542
整理番号:12A1371049
誘電体の圧痕サイズ効果を説明するメカニズム
Elucidating the mechanism for indentation size-effect in dielectrics
著者 (3件):
ROBINSON C. R.
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Houston, Texas 77204, USA)
,
WHITE K. W.
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Houston, Texas 77204, USA)
,
SHARMA P.
(Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Houston, Texas 77204, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
101
号:
12
ページ:
122901-122901-2
発行年:
2012年09月17日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)