文献
J-GLOBAL ID:201202267446432447
整理番号:12A0012688
ZnO TFT低周波数雑音に及ぼす結晶品質効果
Crystal Quality Effect on Low-Frequency Noise in ZnO TFTs
著者 (8件):
JEONG Kwang-Seok
(Chungnam National Univ., Daejeon, KOR)
,
KIM Yu-Mi
(Chungnam National Univ., Daejeon, KOR)
,
YUN Ho-Jin
(Chungnam National Univ., Daejeon, KOR)
,
YANG Seung-Dong
(Chungnam National Univ., Daejeon, KOR)
,
KIM Young-Su
(National Nanofab Center, Daejeon, KOR)
,
KANG Min-Ho
(National Nanofab Center, Daejeon, KOR)
,
LEE Hi-Deok
(Chungnam National Univ., Daejeon, KOR)
,
LEE Ga-Won
(Chungnam National Univ., Daejeon, KOR)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
32
号:
12
ページ:
1701-1703
発行年:
2011年12月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)