文献
J-GLOBAL ID:201202267720890236
整理番号:12A1000357
Cr薄膜の接着とナノ構造の原子間力顕微鏡とX線光電子分光法評価
Atomic force microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy evaluation of adhesion and nanostructure of thin Cr films
著者 (6件):
LAZAUSKAS A.
(Inst. of Materials Sci. of Kaunas Univ. of Technol., Savanoriu 271, LT-3009 Kaunas, LTU)
,
GRIGALIUNAS V.
(Inst. of Materials Sci. of Kaunas Univ. of Technol., Savanoriu 271, LT-3009 Kaunas, LTU)
,
GUOBIENE A.
(Inst. of Materials Sci. of Kaunas Univ. of Technol., Savanoriu 271, LT-3009 Kaunas, LTU)
,
ANDRULEVICIUS M.
(Inst. of Materials Sci. of Kaunas Univ. of Technol., Savanoriu 271, LT-3009 Kaunas, LTU)
,
BALTRUSAITIS J.
(Dep. of Chemistry, Univ. of Iowa, Iowa City, IA 52242, USA)
,
BALTRUSAITIS J.
(Dep. of Chemical/Biochemical Engineering, Univ. of Iowa, Iowa City, IA 52242, USA)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
520
号:
19
ページ:
6328-6333
発行年:
2012年07月31日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)