文献
J-GLOBAL ID:201202267845024492
整理番号:12A0273543
SiCデバイスの温度依存特性:性能評価および損失計算
Temperature-Dependent Characteristics of SiC Devices: Performance Evaluation and Loss Calculation
著者 (4件):
JIANG Dong
(Univ. Tennessee, TN, USA)
,
BURGOS Rolando
(ABB, Inc., NC, USA)
,
WANG Fei
(Univ. Tennessee, TN, USA)
,
BOROYEVICH Dushan
(Virginia Polytechnic Inst. and State Univ., VA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Power Electronics
(IEEE Transactions on Power Electronics)
巻:
27
号:
1-2
ページ:
1013-1024
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
D0211B
ISSN:
0885-8993
CODEN:
ITPEE8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)