文献
J-GLOBAL ID:201202269703855500
整理番号:12A1256953
三次元X線回折を用いて数千の粒子の特性を決定する高速法I.重なり回折ピークと実験装置のパラメータ
A fast methodology to determine the characteristics of thousands of grains using three-dimensional X-ray diffraction. I. Overlapping diffraction peaks and parameters of the experimental setup
著者 (3件):
SHARMA Hemant
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
HUIZENGA Richard M.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
OFFERMAN S. Erik
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
資料名:
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻:
45
号:
4
ページ:
693-704
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
D0631A
ISSN:
0021-8898
CODEN:
JACGAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)