文献
J-GLOBAL ID:201202271598944483
整理番号:12A0238112
強誘電体電界効果トランジスタの電気特性に対する応力と脱分極の影響
Effects of Stress and Depolarization on Electrical Behaviors of Ferroelectric Field-Effect Transistor
著者 (6件):
CHEN Y. Q.
(No. 5 Electronics Res. Inst., Guangzhou, CHN)
,
EN Y. F.
(No. 5 Electronics Res. Inst., Guangzhou, CHN)
,
HUANG Y.
(No. 5 Electronics Res. Inst., Guangzhou, CHN)
,
KONG X. D.
(No. 5 Electronics Res. Inst., Guangzhou, CHN)
,
FANG W. X.
(No. 5 Electronics Res. Inst., Guangzhou, CHN)
,
ZHENG X. J.
(Key Lab. Low Dimensional Materials and Application Technol., Ministry of Education, Xiangtan, CHN)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
33
号:
1
ページ:
110-112
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)