文献
J-GLOBAL ID:201202271812359801
整理番号:12A1507546
膜厚および/またはパルス幅に対するInSeの非晶質半導体薄膜の非線形屈折効果
Nonlinear refraction effects of amorphous semiconductor InSe thin films according to film thicknesses and/or pulse durations
著者 (1件):
YUEKSEK Mustafa
(Dep. of Physics, Sci. and Art Fac., Kafkas Univ., 36100 Kars, TUR)
資料名:
Optics Communications
(Optics Communications)
巻:
285
号:
24
ページ:
5472-5474
発行年:
2012年11月01日
JST資料番号:
A0678B
ISSN:
0030-4018
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)