文献
J-GLOBAL ID:201202272002752350
整理番号:12A0609326
集束イオンビーム-走査電子顕微鏡により三次元で可視化したシリカ-ゴム微細構造
Silica-rubber microstructure visualised in three dimensions by focused ion beam-scanning electron microscopy
著者 (4件):
TUNNICLIFFE L.B.
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
,
TUNNICLIFFE L.B.
(Sibelco Res. Dev. and Innovation, Whiston, GBR)
,
THOMAS A.G.
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
,
BUSFIELD J.J.C.
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
246
号:
1
ページ:
77-82
発行年:
2012年04月
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)